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TableXAFS是一種實驗室級小型化X射線吸收精細結(jié)構(gòu)分析設(shè)備，能夠在常規(guī)實驗室內(nèi)完成材料的局域原子結(jié)構(gòu)表征，其核心特點是擺脫對同步輻射光源的依賴，通過緊湊設(shè)計和高性能組件集成，實現(xiàn)與大型同步輻射裝...

CT型真空紫外光譜儀具備較高的靈敏度和分辨率，能夠精確測量微弱的光譜信號，揭示物質(zhì)更細微的結(jié)構(gòu)和性質(zhì)。其次，該儀器具備較寬的波長覆蓋范圍，可以覆蓋從近紫外到真空紫外區(qū)域的多個波長范圍，滿足各種研究需求...

真空紫外光譜儀采用Seya- Namioka光路結(jié)構(gòu)，入射狹縫和CCD探測器位于羅蘭圓上，可以單色模式和光譜模式切用 。

?分辨平場光譜儀，采?全息凹球?變線距光柵進?分光，具有平場特性，便于使??陣CCD記錄光譜。光柵?作在掠?射模式下，衍射效率?，同時通過選?不同的光柵型號，可以實現(xiàn)波?范圍1~30nm的全覆蓋。

平場光譜儀，采用全息凹球面變線距光柵進行分光，具有平場特性，便于使用面陣CCD記錄光譜。光柵工作在掠入射模式下，衍射效率高，同時通過選用不同的光柵型號，可以實現(xiàn)波長范圍0.6~200nm的全覆蓋。

RapidXAFS主要測量元素K/L吸收邊及其附近的吸收率變化，廣泛應(yīng)用于診斷材料的局域特性，例如核心原子的價態(tài)、 配位數(shù)、位形與鍵長。

原位X射線吸收光譜通過在反應(yīng)過程中實時監(jiān)測吸收邊的近邊（XANES）和擴展邊（EXAFS）信號，揭示材料在真實環(huán)境中的結(jié)構(gòu)演化規(guī)律，為理解構(gòu)效關(guān)系、優(yōu)化材料設(shè)計提供直接依據(jù)。

X射線吸收精細結(jié)構(gòu)（XAFS）譜儀X射線吸收光譜測試主要測量元素K/L吸收邊及其附近的吸收率變化，廣泛應(yīng)用于診斷材料的局域特性，例如核心原子的價態(tài)、 配位數(shù)、位形與鍵長。

X射線吸收譜儀是一種利用同步輻射或?qū)嶒炇襒射線源，通過測量材料對X射線的吸收特性來探測其原子尺度局域結(jié)構(gòu)及電子態(tài)的分析儀器。其核心技術(shù)包括X射線近邊吸收譜和擴展邊精細結(jié)構(gòu)，可精準解析目標元素的化學價態(tài)...

X射線吸收精細結(jié)構(gòu)（XAFS）譜儀X射線吸收光譜測試主要測量元素K/L吸收邊及其附近的吸收率變化，廣泛應(yīng)用于診斷材料的局域特性，例如核心原子的價態(tài)、 配位數(shù)、位形與鍵長。